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SpectrumTEQ-EL電致發光量子效率測量系統

單價(¥)
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品牌
規格
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≥0臺
發布日期
2021年8月17日
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0431-85916189
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  • 詳情
SpectrumTEQ-EL系列電致發光量子效率測量系統,可以針對發光器件的光電特性進行有效測量,系統搭配的QEpro光譜儀為業內公認旗艦系列,具有信噪比、低雜散光等特性,可確保測量結果得準確性;同時,系統配有強大的測試軟件,對話框式的軟件操作界面讓測量過程變得更為簡單。



測量參數

· 量子效率

· 亮度

· 量子效率隨電流密度的曲線

· 色坐標

· 輻射通量,光通量

· 峰值波長



應用領域

· 無機電致發光

· 有機電致發光

· 分子薄膜EL器件



產品優勢

· 體積小巧:便于靈活使用及運輸。

· 原位測量:可放至手套箱內,實現原位測量

· 流程化操作:設備無需頻繁校準。



產品參數



系統配置

配置方案 

方案1

方案2

光譜儀

型號

QEPro / QE65Pro(可選)

光譜范圍(nm)



信噪比

1000:01:00

分辨率

2.5 nm (FWHM)

動態范圍

85000:1(QEPro單次采集);25000:1(QE65Pro單次采集)

AD位數

18-bit(QEPro);16-bit(QE65Pro)

積分球

尺寸

3.3”

1.5”

材質

Spectralon

源表

Keithley2400

光纖

芯徑

1000um(可更換其他芯徑)

校準燈

角度

2 Pi

型號

HL-3-INT-CAL

亮度

50 流明

功率

5W(電功率)

無線遙控 

通道數

4

無遙控

軟件

SpectrumTEQ-EL專用軟件

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