SpectrumTEQ-EL系列電致發光量子效率測量系統,可以針對發光器件的光電特性進行有效測量,系統搭配的QEpro光譜儀為業內公認旗艦系列,具有信噪比、低雜散光等特性,可確保測量結果得準確性;同時,系統配有強大的測試軟件,對話框式的軟件操作界面讓測量過程變得更為簡單。
測量參數
· 量子效率
· 亮度
· 量子效率隨電流密度的曲線
· 色坐標
· 輻射通量,光通量
· 峰值波長
應用領域
· 無機電致發光
· 有機電致發光
· 分子薄膜EL器件
產品優勢
· 體積小巧:便于靈活使用及運輸。
· 原位測量:可放至手套箱內,實現原位測量
· 流程化操作:設備無需頻繁校準。
產品參數
系統配置
配置方案
方案1
方案2
光譜儀
型號
QEPro / QE65Pro(可選)
光譜范圍(nm)
信噪比
1000:01:00
分辨率
2.5 nm (FWHM)
動態范圍
85000:1(QEPro單次采集);25000:1(QE65Pro單次采集)
AD位數
18-bit(QEPro);16-bit(QE65Pro)
積分球
尺寸
3.3”
1.5”
材質
Spectralon
源表
Keithley2400
光纖
芯徑
1000um(可更換其他芯徑)
校準燈
角度
2 Pi
型號
HL-3-INT-CAL
亮度
50 流明
功率
5W(電功率)
無線遙控
通道數
4
無遙控
軟件
SpectrumTEQ-EL專用軟件